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高反射率测量仪
CRD-高反射率测量仪是一款专为高精度反射率测量而设计的先进仪器。该测量仪基于光腔衰荡法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能够精确测量各类样品的反射率，尤其适用于反射率高于99.9%的高反膜等样品，广泛应用于光学薄膜、精密光学元件等领域，为科研与工业生产提供可靠的数据支持。
CRD-高反射率测量仪采用光腔衰荡法进行测量。仪器内部由两片高反射镜M1和M2组成光学谐振腔。当一束脉冲激光沿腔体轴向入射时，忽略衍射及辐射损耗，光脉冲在两反射镜之间往返振荡。探测器接收到的光脉冲信号强度随时间呈指数衰减，通过精确测量信号衰减时间，结合理论计算，即可准确求出待测样品的反射率!CRD-高反射率测量仪是一款专为高精度反射率测量而设计的先进仪器。
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