CRD-高反射率测量仪

    CRD-高反射率测量仪是一款专为高精度反射率测量而设计的先进仪器。该测量仪基于光腔衰荡法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能够精确测量各类样品的反射率，尤其适用于反射率高于99.9%的高反膜等样品，广泛应用于光学薄膜、精密光学元件等领域，为科研与工业生产提供可靠的数据支持。

测量原理

    CRD-高反射率测量仪采用光腔衰荡法进行测量。仪器内部由两片高反射镜M1和M2组成光学谐振腔。当一束脉冲激光沿腔体轴向入射时，忽略衍射及辐射损耗，光脉冲在两反射镜之间往返振荡。探测器接收到的光脉冲信号强度随时间呈指数衰减，通过精确测量信号衰减时间，结合理论计算，即可准确求出待测样品的反射率。

产品特点

（一）精准测试波长

• 标准配置：仪器配备1064nm和532nm两种常用测试波长，满足大多数高反射率样品的测量需求。

• 定制服务：根据用户特定需求，提供其他波长的定制服务，确保仪器适用于各种特殊应用场景。

（二）超宽反射率测量范围

      测量范围覆盖99.9%至99.995%，能够精确测量不同反射率的样品，无论是高反膜还是其他精密光学元件，都能提供准确的测量结果。

（三）卓越测量精度

• 高精度测量：对于反射率在99.9%至99.99%之间的样品，测量精度可达±0.01%；对于反射率高达99.99%的样品，测量精度更是高达±0.001%，确保测量结果的准确性和可靠性。

• 重复性与稳定性：仪器具备优异的重复性和稳定性，能够在长时间内保持测量精度，为用户提供稳定可靠的测量数据。

（四）适用多种样品规格

• 平面样品：适用于平面样品的测量，满足常规光学元件的测试需求。

• 曲面样品：对于曲率半径为500mm的平凹样品，仪器同样能够进行精确测量，拓宽了测量范围，满足更多特殊样品的测试要求。

• 尺寸适配：标配尺寸是dia.25.4或12.7，其他尺寸可根据用户需求定制，确保仪器能够适应不同尺寸的样品测量。

（五）精良配置

• 外观尺寸：仪器外观尺寸为950mm×600mm×300mm（具体尺寸以实际产品为准），设计紧凑，便于放置和操作。

• 光学元件：选用高品质光学元件，包括聚焦透镜、反射镜等，确保光路的稳定性和测量的准确性。

• 高精度光学仪器：作为高精度光学仪器，建议在洁净环境下使用，以保证测量结果的准确性。仪器安装环境应符合相关要求，避免灰尘、振动等外界因素对测量结果产生干扰。

产品参数

配置说明

应用领域

    CRD-高反射率测量仪主要应用于高反膜反射率的测量，尤其适合反射率高于99.9%的样品。在光学薄膜的研发、生产过程中，该测量仪能够为薄膜的反射性能评估提供精确数据，帮助科研人员优化薄膜制备工艺，提升薄膜性能。同时，在精密光学元件的检测中，仪器也发挥着重要作用，确保光学元件的反射率满足高精度光学系统的设计要求。

测试实例

以下是一个使用CRD-高反射率测量仪进行的测试实例：

• 测量波长：1064nm

• 反射率测量结果：

  • M1：99.99%

  • M2：99.995%