PLI-弱吸收测试仪
应用光热透镜原理，利用一束泵浦激光照射样品待测区域，该区域由于热透镜效应从而产生表面形变分布或体内折射率梯度分布。同时采用另一束探测激光照射在样品同一区域，透射过样品的探测光光热信号包含表面形变或折射率变化的振幅和相位等信息。光热信号由光电探测器收集，通过探测光中心光强的变化表征，光热信号再经锁相放大器转换为可分析处理的电信号，最终计算得到被测样品的吸收值。
PLI弱吸收测试仪是一款基于热透镜效应，对激光光学元件的弱吸收具有高灵敏度的测试仪，可广泛应用于晶体材料吸收、薄膜吸收和表面缺陷分析。
应用光热透镜原理，利用一束泵浦激光照射样品待测区域，该区域由于热透镜效应从而产生表面形变分布或体内折射率梯度分布。同时采用另一束探测激光照射在样品同一区域，透射过样品的探测光光热信号包含表面形变或折射率变化的振幅和相位等信息。光热信号由光电探测器收集，通过探测光中心光强的变化表征，光热信号再经锁相放大器转换为可分析处理的电信号，最终计算得到被测样品的吸收值。
仪器布局说明
双光路集成在一个测试平台上，方便光源切换，操作便捷。其他双波长光路结构与上述类似。
PLI 主机带有电源端口以及通讯端口，通讯端口与锁相放大器、电脑建立连接，确保数据稳定传输。
产品特点
*选用优质光学元件,以最优的价格选配最佳的光学元件，提升PLI系统性能
*功能丰富的测量软件集成了各组成系统的控制，直观易用的操作页面可在过程中同步观察测量结果
*可根据需求定制多泵浦光源的检测系统,实现一维、二维吸收及分布的测量
应用领域
*光学、晶体材料吸收
*光学薄膜吸收
*表面缺陷分析(抛光、镀膜工艺辅助改善、胶合/键合质量分析等)
产品技术参数
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参数名称 |
参数值 |
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泵浦光源 |
1064nm 光纤激光器：输出功率 20W；随机偏振；风冷。355nm 激光器：输出功率 3W；偏振输出；水冷。 |
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探测光源 |
He-Ne 激光：632.8nm；输出功率 2mW；偏振输出。 |
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测量精度 |
1ppm |
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样品尺寸 |
最小尺寸：2x2x2mm；最大尺寸：50x50x50mm；圆形、方形样品均适用。 |
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测试速度 |
薄膜吸收 < 1min；基体吸收 ~2min（6mm 厚度） |
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测量功能 |
一维深度逐点扫描；一次性进行表面（膜层）吸收和体（基板）吸收的区分测量；时间扫描，可观测吸收随时间的变化关系。 |
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产品尺寸 |
主机 960×635×380 (mm)；机柜 835×550×700 (mm) |
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注意事项 |
使用时，请佩戴激光防护眼镜，保障实验室与操作人员安全。 |
测试案例
