生长纹测试仪/纹影仪 GSM 50是一款专业利用纹影法观测晶体或光学元件生长纹的设备，通过先进的纹影法技术，将微小的折射率差异转化为明显的明暗对比，实现对被测物密度分布的精确观测。

产品原理

    生长纹测试仪/纹影仪 的原理是基于纹影法。通常在难以可视化的透明固体、气体、液体中，光的折射率也因密度梯度而异。这是一种将折射率的细微变化变成大的明暗差来观测的装置。透明气体、液体和固体中的不均匀状态作为密度梯度，通过的光可以弯曲。纹影法是利用折射率（光的前进方向）的变化可视化的光学观测方法。

    设备利用点光源的光经过透镜形成平行光束，放入被测物后聚焦，并在焦点处放置刀片。通过调整刀片边缘至适当视野，折射光线在刀片边缘附近变暗，远离刀片边缘处变亮，从而清晰呈现被测物的密度分布情况。由此，被测量物的密度分布被观察为明暗对比度。

产品参数

各部件名称

产品优势

• 精确测量 ：基于先进的纹影法技术，可用于晶体生长纹路观察与分析，研究晶体生长的关键参数，对于优化晶体性能和材料研究具有重要意义。为科研和工业生产提供可靠的数据支持。

• 操作简便 ：设备设计简洁，各部件布局合理，易于操作和维护，同时配备详细的《使用说明书》，方便用户快速上手。

适用范围

    广泛应用于晶体生长研究、光学材料检测等领域，适用于对透明固体、气体、液体中密度梯度引起的折射率变化进行观测和分析的科研机构、高校实验室以及相关生产企业。