生长纹测试仪/纹影仪 GSM 50是一款专业用于观察透明固体、气体、液体中因密度梯度导致的折射率变化的设备，通过先进的纹影法技术，将微小的折射率差异转化为明显的明暗对比，实现对被测物密度分布的精确观测。

CRD-高反射率测量仪是一款专为高精度反射率测量而设计的先进仪器。该测量仪基于光腔衰荡法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能够精确测量各类样品的反射率，尤其适用于反射率高于99.9%的高反膜等样品，广泛应用于光学薄膜、精密光学元件等领域，为科研与工业生产提供可靠的数据支持。

PLI弱吸收测试仪是一款基于热透镜效应，对激光光学元件的弱吸收具有高灵敏度的测试仪，可广泛应用于晶体材料吸收、薄膜吸收和表面缺陷分析。
应用光热透镜原理，利用一束泵浦激光照射样品待测区域，该区域由于热透镜效应从而产生表面形变分布或体内折射率梯度分布。同时采用另一束探测激光照射在样品同一区域，透射过样品的探测光光热信号包含表面形变或折射率变化的振幅和相位等信息。光热信号由光电探测器收集，通过探测光中心光强的变化表征，光热信号再经锁相放大器转换为可分析处理的电信号，最终计算得到被测样品的吸收值。