传统移相干涉仪使用压电元件等移动参考平面来获取干涉条纹的图像，并计算相位分布。这种方法的缺点是单次测量至少需要100 毫秒，期间干涉仪与测量样品之间会发生相对振动和空气波动，导致干涉条纹发生波动，从而增加测量误差。为了解决这些问题，DI 100 动态干涉仪采用了“动态干涉测量”技术，无需机械移动参考平面，一次图像数据采集即可获得四帧相移干涉图。由于对相机的每个像素进行相移，可以稳定地收集数据，并且由于一次测量的时间可以缩短到 30 微秒，因此可以在干涉图像因振动等而发生变化之前的瞬间进行测量

i3D 系列产品是非接触式光学面形检测设备，可实现旋转对称光学元件3D形貌的超精密、高速测量。适用于透明与非透明、光滑与粗糙等多种表面类型的检测分析。

OptoFlat® 高精度低相干干涉仪是行业内独有的低成本、高稳定性以及结构紧凑的平面专用低相干干涉仪。其采用低相干性长寿命633nm的LED光源，波长带宽1nm。在测量透明材质的双面平行光学元件的单个表面面型时不会受到其他表面的干涉条纹影响，所以OptoFlat可以排除来自多个表面的干扰，直接测得目标表面的面型精度。对于测量实心玻璃棱镜的前表面面型时也可以抑制其他反射面的影响。

*用于测量平面和球面的4英寸干涉检测系统

*适合长焦光学零件和系统的检测

*镜头口径：50mm、100mm或150mm