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OptoFlat® 高精度低相干干涉仪
OptoFlat® 高精度低相干干涉仪是行业内独有的低成本、高稳定性以及结构紧凑的平面专用低相干干涉仪。其采用低相干性长寿命633nm的LED光源，波长带宽1nm。在测量透明材质的双面平行光学元件的单个表面面型时不会受到其他表面的干涉条纹影响，所以OptoFlat可以排除来自多个表面的干扰，直接测得目标表面的面型精度。对于测量实心玻璃棱镜的前表面面型时也可以抑制其他反射面的影响。2023-06-01 -
µPhase® UNIVERSAL 100 卧式干涉仪
*用于测量平面和球面的4英寸干涉检测系统
*适合长焦光学零件和系统的检测
*镜头口径：50mm、100mm或150mm2023-06-01 -
高精度干涉仪 Trioptics μPhase®
用于测量高精度要求的光学零件，材料包括玻璃、塑料、金属、陶瓷等，非接触式测量可保证在不伤害光学表面的前提下对光学表面及波前进行最精确的评价。2023-06-01
面型测试设备(干涉仪)
μPhase®系列干涉仪可对高精度要求的光学零件进行面型测试，材料包括玻璃、塑料、金属、陶瓷等，非接触式测量可保证在不伤害光学表面的前提下对光学表面及波前进行最精确的评价。
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