Mach–Zehnder干涉仪及其变形的原理
Mach–Zehnder干涉仪的基本原理在于通过巧妙的光路设计，将一束光分成两束，经过不同的路径后再重新汇合，从而产生干涉现象。这一现象为我们提供了一种精确测量光的特性以及相关物理量的方法。
然而，其魅力不仅在于原始的设计，更在于不断演变出的多种变形。其中一种变形在测试斜入射反射中的平面表面方面展现出了出色的能力。通过这种变形，我们能够更加精准地分析平面表面在斜入射情况下的反射特性，为相关的光学研究和应用提供了宝贵的数据支持。
另一种变形则是Jamin干涉仪。这种干涉仪将分束器和折叠镜组合成一个元件，形成了一种独特的结构。这一设计使得该装置具备了显著的优势，它非常坚固，能够在复杂的环境中保持稳定的性能。尤其值得一提的是，当引入元件的分离、偏心或小倾斜时，参考臂和测试臂会经历几乎相同的变化。这一特性使得Jamin干涉仪对元件的机械漂移不敏感，从而大大提高了测量的准确性和可靠性。
这些变形的出现并非偶然，而是科学家们不断探索和创新的结果。它们来源于《Handbook of Optical Systems, Volume 5 Metrology of Optical Components and Systems》《光学量测 81》《Handbook of Optical Systems 3》《光学量测·目录 #光学量测》等专业著作中的深入研究和实践积累。
在当今的科学研究和技术应用中，Mach–Zehnder干涉仪及其变形发挥着越来越重要的作用。无论是在光学元件的质量检测，还是在探索新的物理现象和光学原理方面，它们都为我们打开了一扇扇通向未知世界的窗户。
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镜头色差成因及校正技术解析：ED镜片与APO复消色差系统
在光学成像领域，色差是影响镜头成像质量的核心问题之一。尤其是在长焦拍摄、广角边缘成像或逆光、大光比等复杂场景下，画面中出现的紫边、绿边等色边现象，以及颜色浸润、边缘模糊等问题，本质上均为色差（ChromaticAberration，简称CA）导致的成像偏差。本文将系统解析色差的物理本质、产生机制，深入探讨普通镜片组合、ED镜片及APO复消色差三种校正方案的技术原理与优劣特性，并澄清行业内关于APO镜头与锐度的认知误区。
2025-12-15
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无干涉机制赋能宽带片上角动量复用：150纳米带宽芯片技术实现
在信息技术向超高容量、微型化方向持续演进的当下，光的角动量复用技术凭借其物理正交特性，已成为破解数据传输与存储领域性能瓶颈的关键技术路径。然而，传统基于干涉法的探测方案受限于器件体积与带宽特性，难以满足芯片级集成应用的核心需求。近日，一项发表于《Science》的研究提出了无干涉角动量复用创新方案，通过设计新型纳米环孔径结构，成功实现150纳米带宽的片上并行复用，为微型化纳米光子器件的研发与应用开辟了全新路径。
2025-12-15
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多组间隔镜片镜头的定心装配与空气间隔控制技术
在精密光学镜头（如安防监控镜头、工业检测镜头、高端成像镜头等）中，多组带空气间隔的镜片是实现高清成像的核心结构。镜片光轴的同轴度与空气间隔的精准度直接决定镜头的分辨率、像差校正效果等关键指标——若光轴偏移，会导致成像模糊、畸变；若空气间隔偏离设计值，则会破坏光学系统的共轭关系，影响画质还原。针对这类镜头，数控定心车削技术结合闭环反馈装配体系，已成为实现高精度定心装配与空气间隔控制的主流方案。
2025-12-15
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放大的自发辐射（ASE）与受激辐射的核心机制及差异解析
在量子电子学与激光物理领域，光辐射机制的特性直接决定了光学器件的性能与应用场景。放大的自发辐射（Amplified Spontaneous Emission,ASE）作为介于自发辐射与受激辐射之间的关键光放大过程，其物理本质与两类基础辐射机制的差异，是理解光电子技术原理的核心前提。本文基于量子光学基本理论，系统梳理三者的物理机制、形成过程及核心差异，为相关领域的理论研究与技术应用提供参考。
2025-12-15
