【光学前沿资讯】高效集成双微梳光源的研究突破
一、引言
在当今科技飞速发展的时代，双频梳干涉技术展现出巨大的应用潜力。然而，现有的双频梳系统在实际应用中面临诸多挑战，集成和设备小型化成为亟待解决的关键问题。
二、光学双微梳源混合集成平台
这种混合集成双微梳源由多个关键部分组成。它包括热稳定且具有高Q微谐振器的SiN光子芯片，对接耦合的半导体LD以及输出透镜光纤。通过使用不同的光子芯片设计和半导体，能够实现快速原型制作。不过，由于两个光子芯片需要独立热稳定，导致拍频的相对热漂移高达100MHz。
三、用于双微梳源的高效孤子微梳
当前，制造高Q氮化硅微谐振腔的技术存在一定局限，使用单频窄线宽激光器的外部泵浦来产生可持续的孤子微梳并非易事，且外部泵激发孤子梳的过程较为复杂。而完全集成的自注入锁定方案带来了出色的交钥匙操作，无需额外设备，不仅抑制了热效应，还保持了梳产生状态的稳定，极大地简化了梳生成过程，提高了稳定性。生成的梳具有宽带、高信噪比和高泵-梳边带功率转换效率等显著优点。
四、双微梳源的光谱特性
通过调节微谐振腔温度，可以有效地控制微梳线间距和双微梳信号。自注入锁定放宽了对微谐振器Q因子及其光谱纯度的要求，使得商业微谐振器能够应用于片上双微梳源。在半导体激光设备二极管的选择上，分布式反馈激光二极管在锁定波长可预测、两梳匹配等方面表现出色，而法布里-珀罗型则更具功率优势且价格便宜，具有实际应用前景。为了克服热漂移，提高双梳稳定性，可以考虑将两个微谐振器组合在同一个光子芯片上或使用相同微谐振器产生两个孤子梳等设计。基于自注入锁定的微梳生成设计方案有望进一步提升集成双微梳源的性能。
五、研究人员简介
相关研究人员来自特定的机构，专注于该领域的深入研究，他们的研究方向和联系方式为进一步的交流与合作提供了可能。
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光学镀膜光谱漂移：膜厚偏差与折射率不均匀对光谱性能的量化影响
一片设计中心波长为550nm的增透膜，镀膜后的实测反射率最低点在532nm——"漂了18nm"。这个18nm的偏差意味着：在550nm的设计目标波长处，实际反射率可能是设计值的2~5倍（从<0.1%跳变到0.2%~0.5%）。在精密光谱仪器中，这个漂移会转化为光通量的系统性损失；在多通道光学系统中，不同通道的反射率偏差成为像面颜色不均匀性的直接来源。镀膜光谱漂移的根本原因在于两个相互独立的变量：膜层总光学厚度（n×d）的偏差和膜层材料折射率n的偏差。两者耦合在一起，使漂移分析需要从分光光度计的实测光谱中反推偏差的来源。本文从膜厚和折射率两个维度分析漂移机制，介绍从光谱反推到工艺控制的完整链路。
2026-08-11
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像面照度均匀性：相对照度、暗角效应与检测方法
你用一台单反相机拍了一片均匀的白色墙面——画面中心白得纯净，四角却逐渐变暗。这个"暗角"（Vignetting）不是相机的故障——它是每一个光学系统与生俱来的照度衰减现象，被量化称为相对照度（Relative Illumination）。在一台安防监控摄像头中，如果最暗角的照度仅为画面中心的40%，夜间的入侵者如果出现在暗角区域，可能直接低于探测器的信噪比阈值。像面照度均匀性影响的不是MTF——它影响的是系统对场景中不同位置目标的探测信噪比——这是一个在图像质量评价中常被MTF掩盖但同等重要的指标。本文从相对照度的物理来源、余弦四次衰减定律、暗角效应的机制和测量方法四个维度，系统介绍像面照度均匀性的全面理解。
2026-08-11
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ImageQuality Hub 来了：让多台 ImageMaster 的 MTF 数据"说同一种话"
【产品动态·新品视角】一台 R&D 设备、一台产线设备、一台 Tier 1 厂来料复测设备——三台机器的 MTF 数据为什么会"对不上号"？TRIOPTICS 给出了一个统一答案。
2026-08-11
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Zernike系数速查指南：从一页数字到工艺诊断
【技术干货】波面图告诉你"长什么样"，Zernike系数告诉你"是什么病、有多严重"。但那张系数表，你真的看懂了吗？
2026-08-10
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2秒钟测一台相机：CamTest Focus OEM把对焦检测塞进产线
【产品应用】一台2秒出结果的相机对焦检测模块，正在被塞进消费电子和车载摄像头的产线里。
2026-08-10
