|超精密光学检测设备提供商
产品中心
PRODUCT CENTER
-
镜面间隔及中心偏差测量仪 OptiCentric®3D
OptiCentric® 3D是结合OptiCentric®中心偏差测量仪系列及OptiSurf®镜面定位仪系列二者的功能而开发完成的;它不仅能够测量光学系统的中心偏差,还能够测量镜片间的空气间隔及镜片的中心厚度;由于在同一台设备上可同时测量中心偏差和镜面间距,这极大的方便了光学系统的高精度装调。¥ 0.00立即购买
-
高精度非接触式光学测厚仪 LensThick非接触式光学测厚仪
LensThick非接触式光学测厚仪利用光的独特性质测量厚度,其测量原理为:测量激光照射到被测试材料上,经过每个表面反射后被收集,然后在...¥ 0.00立即购买
品牌中心
APPLICATION CASES
TRIOPTICS
TRIOPTICS
德国TRIOPTICS集团成立于2005年,总部设在德国汉堡。
GW
GW
北京GW科技有限公司,注册于1998年,是一家以发展高科技光学类产品为主导的民营公司。
INFRAMET
INFRAMET
波兰INFRAMET公司成立于2002年,是一家用于测试电光监控系统的高科技设备制造商。
MEASOPT
欧光科技(EUROPTICS®)致力于光学精密制造与检测领域,是知名光学企业的设备供应商。欧光科技不仅为客户提供优秀的仪器设备,同时也应客户的需求为客户提供解决方案。
合作的品牌: 德国全欧光学TRIOPTICS GmbH、 GW、MEASOPT等。
产品主要有:光学传递函数测量仪、中心偏差测量仪、测角仪、折射率测量仪、光学测厚仪、曲率半径测量仪、测焦仪、内调焦自准直仪、大口径平行光管、三坐标测量机、影像测量机、表面粗糙度测量仪。
ABOUT US
公司简介
-
光学精密检测设备选型指南:从技术指标到产线应用的选择逻辑
在精密光学制造中,检测设备的选择直接决定了制造良率和成本的基准线。面对干涉仪、MTF测量仪、中心偏差测量仪、测厚仪等多种设备类型,如何根据产品需求和产线条件做出最优选择?本文从光学元件和系统的检测需求出发,构建一套实用的选型逻辑框架。
넶0 2026-06-26 -
高能电子撞上半导体:解锁超快辐射检测新方法
最近斯坦福大学的研究团队有了一项重要突破:用兆电子伏(MeV)级的高能电子照射普通半导体,能在不到10皮秒(1皮秒=万亿分之一秒)的时间里产生极强的光学变化。这个发现有望把辐射检测的时间精度从纳秒级直接提升到皮秒级,给医学成像、辐射监测等领域带来质的飞跃。
넶0 2026-06-26 -
晶圆级光学元件检测:当光学测量遇上半导体工艺
在传统光学车间待久了,你对检测的认知大概是这样的:一枚镜片放在定心仪上,调好、读数、下一个。但如果把这枚镜片缩小到头发丝直径的十分之一,在8英寸晶圆上同时做5000个——检测就完全变了味。晶圆级光学元件(Wafer-Level Optics, WLO)已经在智能手机、3D传感、车载摄像和AR/VR里大规模商用。这篇从检测工程师的视角,拆解WLO的三大核心挑战和五条技术路线。
넶0 2026-06-26 -
光学薄膜检测:高反射率测量与弱吸收测试技术解析
光学薄膜的性能直接决定了系统级光学效率——激光陀螺需要反射率>99.99%的超高反射镜,激光加工系统需要吸收率<10 ppm的低损耗窗口。这两种极端需求的检测方法代表了光学薄膜计量学的精度前沿。本文系统阐述高反射率测量(腔衰荡法、谐振腔法)和弱吸收测试(光热偏转法、激光量热法)的技术原理、精度边界和应用场景,并探讨在精密光学制造中建立膜层性能全参数评价体系的工程意义。
넶4 2026-06-25
新闻资讯
NEWS

