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PRODUCT CENTER
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镜面间隔及中心偏差测量仪 OptiCentric®3D
OptiCentric® 3D是结合OptiCentric®中心偏差测量仪系列及OptiSurf®镜面定位仪系列二者的功能而开发完成的;它不仅能够测量光学系统的中心偏差,还能够测量镜片间的空气间隔及镜片的中心厚度;由于在同一台设备上可同时测量中心偏差和镜面间距,这极大的方便了光学系统的高精度装调。¥ 0.00立即购买
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高精度非接触式光学测厚仪 LensThick非接触式光学测厚仪
LensThick非接触式光学测厚仪利用光的独特性质测量厚度,其测量原理为:测量激光照射到被测试材料上,经过每个表面反射后被收集,然后在...¥ 0.00立即购买
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APPLICATION CASES
TRIOPTICS
TRIOPTICS
德国TRIOPTICS集团成立于2005年,总部设在德国汉堡。
GW
GW
北京GW科技有限公司,注册于1998年,是一家以发展高科技光学类产品为主导的民营公司。
INFRAMET
INFRAMET
波兰INFRAMET公司成立于2002年,是一家用于测试电光监控系统的高科技设备制造商。
MEASOPT
欧光科技(EUROPTICS®)致力于光学精密制造与检测领域,是众多国际知名光学研究机构和企业的设备供应商。欧光科技不仅为客户提供世界优秀的仪器设备,同时也应客户的需求为客户提供更好的解决方案。
合作的品牌: 德国全欧光学TRIOPTICS GmbH、 GW、MEASOPT等。
产品主要有:光学传递函数测量仪、中心偏差测量仪、测角仪、折射率测量仪、光学测厚仪、曲率半径测量仪、测焦仪、内调焦自准直仪、大口径平行光管、三坐标测量机、影像测量机、表面粗糙度测量仪。
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公司简介
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氟化钙(CaF₂)镜片在半导体光学设备中的核心应用与技术优势
半导体制造作为现代高端制造业的核心领域,其制程精度已迈入纳米级乃至亚纳米级阶段。光学系统作为半导体设备的“感知与执行核心”,无论是光刻设备中负责图形转移的物镜系统,还是晶圆缺陷检测、膜厚测量设备中的成像与光谱分析模块,其性能直接决定了半导体产品的良率与制程极限。在众多光学材料中,氟化钙(CaF₂)单晶凭借其独特的理化特性与卓越的光学性能,成为半导体设备光学镜片的核心选择,尤其在深紫外(DUV)光刻、多波段检测等关键场景中展现出不可替代性。本文将系统阐述CaF₂的核心特性、应用价值及行业应对策略。
넶0 2026-02-04 -
可见光与红外光谱成像有什么区别?为何说它们能分工互补,共筑高效应用体系?
在现代光学成像技术领域,可见光与红外光谱成像作为两大核心技术分支,始终发挥着不可或缺的作用。长期以来,关于“二者谁更先进”的讨论从未停歇,但事实上,这一问题的本质是对两种技术定位与功能的认知偏差。可见光与红外光谱成像并非升级替代关系,而是基于不同技术逻辑、聚焦不同应用需求的分工互补关系,二者协同发力,方能满足复杂场景下的多元化成像需求。
넶0 2026-02-04 -
滤光片蓝移现象的工程影响与应对策略探析
在光学系统研发与应用中,信噪比是衡量系统性能的核心指标之一。不少光学系统在实验室环境下能达到理想指标,但一经装机部署、角度调整或集成入机箱后,常出现信噪比骤降、背景干扰增强、有效信号减弱等问题。经工程实践验证,此类问题的根源往往并非探测器性能不足或算法设计缺陷,而是被忽视的滤光片入射角变化引发的蓝移现象。本文将深入剖析这一现象的本质、工程危害、诱发因素,并提出切实可行的应对方案,为光学系统工程设计提供参考。
넶0 2026-02-04 -
MTF计算“采样不充分、计算不准确”问题的技术解决方案
在光学系统设计领域,调制传递函数(MTF)是量化评估成像质量的核心指标,其计算结果的准确性直接决定了光学设计方案的可行性与可靠性。在Zemax软件实操过程中,“采样不充分、计算不准确”的MTF提示是较为常见的技术故障,其核心成因在于采样密度未满足系统需求或系统像质不佳,导致快速傅里叶变换(FFT)计算无法收敛。为高效解决该问题,本文结合光学设计原理与Zemax实操规范,从故障成因、分步解决策略、技术避坑要点三方面,构建系统化的技术解决方案。
넶1 2026-02-04
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