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调制传递函数—MTF的原理是什么？
在光学领域，调制传递函数（MTF）是衡量光学系统性能的关键参数之一。它不仅能够反映光学系统的成像质量，还能指导光学设计和优化。本文将深入探讨调制传递函数的原理，以及如何通过不同的方法来测试和评估MTF。
넶788 2024-04-30
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光学膜层的非接触厚度测量：从椭偏仪到反射光谱法的技术选择
一片镜片上的增透膜厚度标注为"SiO₂ 80nm±2nm"。80nm约等于400个硅原子的直径——检测这样厚度的膜层，接触式测厚仪（探针）已无法使用：探针的接触力会直接穿透膜层或造成不可逆的损伤。光学膜层的厚度测量几乎完全依赖非接触光学方法。本文从椭偏仪和反射/透射光谱法两种主流方案出发，对比其物理原理、精度边界和适用场景，为膜层检测的选型提供参考。
넶0 2026-07-15 -
光学镜头的杂散光分析：鬼像、散射光与自生辐射的检测与控制
一张天文照片中的"飞碟状"光环、一幅夜间监控画面中的眩光条纹、一台激光通信终端中意外的背景计数——这些问题的共同根源是杂散光（Stray Light）。杂散光不携带图像信息，却占据了探测器的动态范围，降低了系统的信噪比和对比度。在精密光学系统中，控制杂散光的重要性不亚于提高MTF——一个MTF优秀的系统可以被杂散光轻易"淹没"。本文从杂散光的三类来源出发，系统介绍其检测方法和控制策略。
넶0 2026-07-15 -
WaveMaster波前传感器：光刻物镜装调里的"实时眼睛"
装调光刻物镜时，MTF曲线合格未必代表系统真的"调好了"。WaveMaster波前传感器把像差拆成Zernike语言，让装调从"看结果"变成"看原因"。
넶1 2026-07-15 -
红外光学元件检测的特殊挑战：从材料到系统的全套方案
可见光波段的精密检测，干涉仪、自准直仪和MTF测量仪构成了标准"三件套"。但当波长从550nm跨越到10μm（长波红外），一切检测逻辑都在变化：玻璃基底变成了锗、硒化锌或硫化锌，探测器从CCD变成了制冷型MCT或非制冷微测辐射热计，而"看得见"的光学对中变成了"看不见"的红外对准。本文从材料特性、测量设备和工作环境三个维度，系统分析红外光学元件检测的特殊技术挑战。
넶1 2026-07-14
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