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PRODUCT CENTER
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镜面间隔及中心偏差测量仪 OptiCentric®3D
OptiCentric® 3D是结合OptiCentric®中心偏差测量仪系列及OptiSurf®镜面定位仪系列二者的功能而开发完成的;它不仅能够测量光学系统的中心偏差,还能够测量镜片间的空气间隔及镜片的中心厚度;由于在同一台设备上可同时测量中心偏差和镜面间距,这极大的方便了光学系统的高精度装调。¥ 0.00立即购买
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高精度非接触式光学测厚仪 LensThick非接触式光学测厚仪
LensThick非接触式光学测厚仪利用光的独特性质测量厚度,其测量原理为:测量激光照射到被测试材料上,经过每个表面反射后被收集,然后在...¥ 0.00立即购买
品牌中心
APPLICATION CASES
TRIOPTICS
TRIOPTICS
德国TRIOPTICS集团成立于2005年,总部设在德国汉堡。
GW
GW
北京GW科技有限公司,注册于1998年,是一家以发展高科技光学类产品为主导的民营公司。
INFRAMET
INFRAMET
波兰INFRAMET公司成立于2002年,是一家用于测试电光监控系统的高科技设备制造商。
MEASOPT
欧光科技(EUROPTICS®)致力于光学精密制造与检测领域,是众多国际知名光学研究机构和企业的设备供应商。欧光科技不仅为客户提供世界优秀的仪器设备,同时也应客户的需求为客户提供更好的解决方案。
合作的品牌: 德国全欧光学TRIOPTICS GmbH、 GW、MEASOPT等。
产品主要有:光学传递函数测量仪、中心偏差测量仪、测角仪、折射率测量仪、光学测厚仪、曲率半径测量仪、测焦仪、内调焦自准直仪、大口径平行光管、三坐标测量机、影像测量机、表面粗糙度测量仪。
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公司简介
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硅晶圆激光切割核心技术深度解析:原理、工艺与质量把控
在半导体制造产业链中,硅晶圆切割是芯片成型的关键工序,其加工精度与效率直接影响芯片良品率和产业发展节奏。随着微电子器件向微型化、薄型化升级,传统切割方式的弊端逐渐显现,激光切割凭借高精度、低损伤的技术优势成为行业主流。本文从激光切割系统的硬件构成出发,深入拆解隐形切割与消融切割两大核心工艺,解析光斑、焦点的精度控制逻辑,并探讨切割质量的评价维度与效率平衡策略,系统梳理硅晶圆激光切割的核心技术体系
넶0 2026-02-12 -
无掩模激光直写技术研究概述
无掩模激光直写技术作为微纳加工领域的先进光刻技术,摒弃了传统光刻工艺对掩模版的依赖,凭借直接写入的核心特性,在复杂微纳结构制备、高精度图案加工中展现出独特优势,成为微纳加工领域的重要技术方向。本文从工作原理与流程、技术特性、现存挑战、分辨率与对准参数、核心设备及厂务动力配套要求等方面,对该技术进行全面梳理与阐述。
넶0 2026-02-12 -
SiC功率器件的高温时代:封装成为行业发展核心瓶颈
在半导体功率器件技术迭代进程中,碳化硅(SiC)凭借高温工作、高电流密度、高频开关的核心优势,成为推动功率半导体升级的关键方向,其普及大幅提升了器件的功率密度与工作效率,为功率半导体行业发展带来全新机遇。但与此同时,行业发展的核心瓶颈正悄然从芯片设计与制造环节,转移至封装层面。当SiC将功率器件的工作温度与功率密度不断推高,芯片本身已具备承受更高应力的能力,而封装环节的材料适配、热路径设计等问题却日益凸显,高温与快速功率循环叠加的工况下,焊料与热路径成为决定SiC功率模块寿命的核心因素,封装技术的发展水平,正成为制约SiC功率器件产业化落地与长期可靠应用的关键。
넶0 2026-02-12 -
无透镜成像技术的原理、发展与应用
无透镜成像,本质上是一种不依赖传统光学透镜,通过光学编码与算法解码相结合的方式,实现物体图像重建的计算成像技术。与传统成像技术“物理聚焦成像”的核心逻辑不同,无透镜成像以“计算重构”替代“透镜聚焦”,摆脱了对高精度透镜及复杂光学装调系统的依赖,通过前端光学编码记录光场信息,后端算法解码重构清晰图像,实现了成像系统的微型化、低成本化与功能多元化。
넶0 2026-02-11
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