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PRODUCT CENTER
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镜面间隔及中心偏差测量仪 OptiCentric®3D
OptiCentric® 3D是结合OptiCentric®中心偏差测量仪系列及OptiSurf®镜面定位仪系列二者的功能而开发完成的;它不仅能够测量光学系统的中心偏差,还能够测量镜片间的空气间隔及镜片的中心厚度;由于在同一台设备上可同时测量中心偏差和镜面间距,这极大的方便了光学系统的高精度装调。¥ 0.00立即购买
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高精度非接触式光学测厚仪 LensThick非接触式光学测厚仪
LensThick非接触式光学测厚仪利用光的独特性质测量厚度,其测量原理为:测量激光照射到被测试材料上,经过每个表面反射后被收集,然后在...¥ 0.00立即购买
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TRIOPTICS
TRIOPTICS
德国TRIOPTICS集团成立于2005年,总部设在德国汉堡。
GW
GW
北京GW科技有限公司,注册于1998年,是一家以发展高科技光学类产品为主导的民营公司。
INFRAMET
INFRAMET
波兰INFRAMET公司成立于2002年,是一家用于测试电光监控系统的高科技设备制造商。
MEASOPT
欧光科技(EUROPTICS®)致力于光学精密制造与检测领域,是知名光学企业的设备供应商。欧光科技不仅为客户提供优秀的仪器设备,同时也应客户的需求为客户提供解决方案。
合作的品牌: 德国全欧光学TRIOPTICS GmbH、 GW、MEASOPT等。
产品主要有:光学传递函数测量仪、中心偏差测量仪、测角仪、折射率测量仪、光学测厚仪、曲率半径测量仪、测焦仪、内调焦自准直仪、大口径平行光管、三坐标测量机、影像测量机、表面粗糙度测量仪。
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公司简介
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光学镀膜光谱漂移:膜厚偏差与折射率不均匀对光谱性能的量化影响
一片设计中心波长为550nm的增透膜,镀膜后的实测反射率最低点在532nm——"漂了18nm"。这个18nm的偏差意味着:在550nm的设计目标波长处,实际反射率可能是设计值的2~5倍(从<0.1%跳变到0.2%~0.5%)。在精密光谱仪器中,这个漂移会转化为光通量的系统性损失;在多通道光学系统中,不同通道的反射率偏差成为像面颜色不均匀性的直接来源。镀膜光谱漂移的根本原因在于两个相互独立的变量:膜层总光学厚度(n×d)的偏差和膜层材料折射率n的偏差。两者耦合在一起,使漂移分析需要从分光光度计的实测光谱中反推偏差的来源。本文从膜厚和折射率两个维度分析漂移机制,介绍从光谱反推到工艺控制的完整链路。
넶0 2026-08-07 -
圆形艾里光束实现高非局域非线性响应精准测量光学非线性检测再添新方法
近日,河南师范大学物理学院赵兴东副教授、朱遵略教授团队联合南开大学物理学院胡毅教授团队提出一项光学测量新成果:利用圆形艾里光束的非线性传输特性,实现高非局域非线性介质响应的定量精准测量。相关研究论文以《Measurementof Highly Nonlocal Nonlinear Responsesvia Circular Airy Beams》为题,发表于光学领域权威期刊《Laser&Photonics Reviews》,为结构光在非线性光学检测领域的应用开辟了全新路径。
넶0 2026-08-07 -
折射率测量中的环境补偿:温度、气压和湿度如何影响你的数据
折射率测量中的环境补偿不只是干涉仪上的Edlén公式修正——它涉及三个独立的修正维度:样品的自身热光效应(材料折射率随温度变化)、空气折射率的温度和气压修正、以及测量波长的精确定标。三者中任何一个被忽略,折射率精度就不再是10⁻⁵量级,而是10⁻⁴甚至10⁻³。本文系统介绍折射率测量中三重环境补偿的完整逻辑。
넶2 2026-08-07 -
有效焦距与后焦距:两个容易混淆的参数及其工程差异
有效焦距(EFL, Effective Focal Length)告诉光学设计者"这个镜头对光线的偏折能力相当于多少mm的理想薄透镜";后焦距(BFL, Back Focal Length)告诉机械装配者"从最后一镜片后表面到探测器或胶片的距离是多少mm"。这两个数值可以相差悬殊——同一个镜头,EFL可能是50mm,但BFL可能只有15mm或大到80mm。在产线中错误地用BFL代替EFL进行焦距验收,或将EFL和BFL混淆用于机械设计,都会导致不可接受的系统误差。本文从定义、测量和工程差异三个维度,厘清这两个参数的本质区别。
넶0 2026-08-06
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