如何使用温控型折射率测量仪进行红外波段的高精度折射率测量？

温控型折射率测量仪是一种专为红外波段折射率测量设计的高精度光学仪器，亦可用于可见光测量。该仪器通过其集成的温控系统，确保测量过程中样品的温度恒定，从而显著提升测量结果的准确性。其核心测量原理基于最小偏角法，这是一种经典的光学测量技术，通过精确测量透射光与入射光之间的角度差来计算样品的折射率。

温控型折射率测量

该仪器的测量范围广泛，能够覆盖从1微米至14微米的波长区间，使其能够满足多种测量需求。在这一宽广的波长范围内，仪器能够实现高达0.0001级别的折射率测量精度，这在光学测量领域属于极高标准。这种高精度的测量能力对于评估和选择适用于红外波段的材料至关重要，包括锗（Ge）、硅（Si）、锌硒化物（ZnSe）、溴化钾铕酸盐（KRS-5）、硫化物玻璃及红外光学薄膜等。

此外，温控型折射率测量仪不仅能够测量材料在特定温度下的折射率，还能评估因样品温度变化引起的折射率变化，即温度系数（dn/dT）。这一功能对于研究材料在不同环境条件下的性能变化具有重要意义，尤其是在需要考虑温度影响的红外光学系统设计中。

该仪器的控温功能为用户提供了额外的便利性。通过精确控制样品的温度，用户可以模拟不同的环境条件，从而更全面地了解材料的光学特性。这种能力使得温控型折射率测量仪成为红外窗口、红外透镜和硫系玻璃等材料折射率测量的理想选择，为红外光学领域的研究和开发提供了强有力的支持。

创建时间：2024-06-20 10:59

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