NRIseries

温控型折射率测量仪

温控型折射率测量仪适用于红外波段的折射率测量,具备温控功能,基于最小偏角法,通过照射任意波长(1~14µm)的单色光到棱镜形状的样品上,测量透射光相对入射光的角度来确定样品的折射率。这种仪器能够提供更高的折射率精度(0.0001)。适用于评估用于红外波段的材料,如Ge、Si、ZnSe、KRS-5、硫化物玻璃和红外光学薄膜。
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Product Details

温控型折射率测量仪适用于红外波段的折射率测量,具备温控功能,基于最小偏角法,通过照射任意波长(1~14µm)的单色光到棱镜形状的样品上,测量透射光相对入射光的角度来确定样品的折射率。这种仪器能够提供更高的折射率精度(0.0001)。适用于评估用于红外波段的材料,如Ge、Si、ZnSe、KRS-5、硫化物玻璃和红外光学薄膜。

 

产品特征


*在波长范围1~14µm内,可实现高精度折射率(0.0001)测量 。
*非常适合红外窗口、红外透镜和硫系玻璃的折射率测量。
*同时支持评估因样品温度变化引起的折射率变化(dn/dT)。

*具备控温功能。

 

可测项目


 

结构图


 

测量数据


 

样本参考


为了实现折射率精度达到0.0001的测量,需要保证棱镜的表面精度达到1/8波长以上。

 

产品技术指标


测量目标

棱镜

测定项目

顶角、最小偏角、波长分散*1、温度分散*2

测定方式

垂直角测量:自准直法

最小偏角测定: 最小偏角法

测量波长范围 0.4~14μm *3
测量折射率范围 1~4
测定精度(再现性)

±0.0001以内*4

照射光尺寸 Φ15mm/Φ8mm(根据光圈孔径从1到20mm变化)
控温范围

-40~80℃ *5

控温精度 ±0.1℃
算术函数 顶角计算、最小偏角计算、折射率计算、各种色散公式的系数计算
保存形式 文本格式

*1 波长色散测量是测量每个波长的折射率的模式。波长色散方程的系数是通过“材料数据计算”模式使用测量数据计算得出的。
*2 温度色散测量是测量各温度下折射率的模式。温度色散方程的系数是通过“材料数据计算”模式使用测量数据计算得出的。在使用恒温罩时,可能会出现误差。
*3 这是硬件和软件操作的可用范围。实际可测量的波长范围取决于最终检测器的信号强度。
*4 透射率和表面精度等与样品相关的因素也是误差源,因此无法保证所有样品都能达到所需精度。
*5 这是温度调节阶段的设置范围。使用Pt100传感器测量样品的温度。(温度色散方程的系数将使用这些实际测量值进行计算。)

 

最小偏角法原理图示


 

外形结构


●外形尺寸

 ・本体:约W1800×D900×H1800mm

 ・机架:约W500×D580×H1705mm


●电源

 ・AC100V±10V 50/60Hz 25A


●外部气体

 ·干燥的空气

*不包含干燥空气设备。如果需进行低温温控,为防止结露,需在恒温罩内进行气体置换(或流通),并对恒温罩窗外侧进行喷洒操作。

产品中心

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