i3D光学形貌3D检测设备:赋能精密光学元件超精密测量,引领行业检测技术革新
在光学制造、精密元件研发及高端装备领域,“测量精度”与“检测效率”是决定产品品质、研发进度及产能水平的核心要素。传统接触式检测技术易对精密元件表面造成划伤或应力变形,单一波长测量方案难以适配透明与非透明材料的多样化检测需求,且长行程测量中的误差累积问题,长期制约着行业超精密检测目标的实现。在此背景下,i3D系列光学形貌3D检测设备凭借非接触式测量原理、多维度超精密校准体系及全场景适配能力,重新定义旋转对称光学元件检测标准,为行业突破技术瓶颈提供关键支撑。

核心技术优势:三大维度突破,攻克行业检测痛点
i3D系列作为专为精密光学元件设计的非接触式光学面形检测设备,从测量原理、硬件配置到算法优化,全方位解决传统检测技术的短板,实现“高精度”与“高效率”的协同统一。
1.非接触式测量:保障精密工件无损检测
相较于传统接触式检测可能引发的元件表面划伤、微观结构破坏等问题,i3D系列采用纯光学检测方案,无需与工件表面直接接触,即可完成旋转对称光学元件3D形貌的全维度数据采集。无论是表面光滑的透镜、棱镜等透明光学元件,还是结构脆弱的高价值精密部件,均能在“零损伤”前提下完成检测,大幅降低良品损耗率,尤其适用于批量生产场景下的品质把控与高价值元件的精准检测。
2.超精密测量体系:多维度校准,确保数据精准可靠
精度是检测设备的核心价值,i3D系列通过“硬件升级+算法优化”构建超精密测量体系,从根源上降低误差干扰:
多轴动态补偿:设备搭载X、Z、R、C四轴在线高精度监测模块,可实时捕捉轴系运动偏差并动态修正,即使在长行程测量场景下,仍能保持稳定的测量精度;
环境因素补偿:内置环境自适应补偿功能,可有效抵消温度、湿度、气压等环境变量对测量结果的影响,无需依赖严苛的恒温恒湿实验室环境,即可实现稳定检测;
系统误差校准:通过专属校准算法消除设备自身光学系统与机械结构的固有误差,搭配多波长干涉测量技术,进一步提升面形偏差检测的灵敏度,精准识别元件表面细微形貌差异。
此外,设备支持最大90°测角范围,结合长行程X、Z轴设计,可覆盖不同尺寸(小至毫米级、大至数百毫米级)、不同曲率的旋转对称元件检测需求,无需频繁更换夹具或调整检测参数,显著提升检测效率。
3.全场景适配能力:打破材料与表面类型限制
传统检测设备常因材料光学特性或表面粗糙度差异导致检测失效——透明材料易出现光线穿透现象,影响数据采集准确性;粗糙表面则易引发光线散射,导致测量误差增大。i3D系列通过优化光学检测方案,实现全场景覆盖:
材料适配:可精准检测玻璃、树脂等透明材料,及金属、陶瓷、复合材料等非透明材料制成的旋转对称元件;
表面适配:无论是镜面级光滑表面(粗糙度Ra≤0.01μm),还是微米级粗糙表面(粗糙度Ra≤10μm),均无需调整核心检测参数即可完成3D形貌测量,适配球面镜、非球面镜、透镜组等多种元件类型。
实测性能数据:以量化指标彰显超精密检测能力
i3D系列的超精密性能已通过多类旋转对称元件实测验证,数据指标达到行业领先水平(注:PV为峰谷值,代表表面最高点与最低点的差值;RMS为均方根值,代表表面粗糙度的统计平均,二者数值越小,表明元件表面精度越高):
凹球体检测:针对直径40mm的凹球体元件,其面形偏差PV值为74.591nm,RMS值为12.197nm,可精准捕捉元件表面细微形貌起伏;
凸球体检测:针对直径305mm的大尺寸凸球体元件,面形偏差PV值为198.271nm,RMS值为34.340nm,在大尺寸工件检测中仍保持超高精度;
非球体检测:针对直径132mm的非球体元件,复杂曲面的面形偏差PV值为1079.939nm,RMS值为185.898nm,满足非对称曲面结构的精密测量需求。
适用领域:覆盖多行业精密检测需求
i3D系列光学形貌3D检测设备凭借其全面的技术优势,已成为多行业精密检测的核心装备,具体适用场景包括:
光学元件制造领域:用于镜头、棱镜、球面镜、非球面镜等产品的批量出厂检测,确保元件面形精度符合设计标准;
精密机械制造领域:检测金属、陶瓷等材质的旋转对称结构件(如精密轴承内环、液压阀芯等),保障部件表面精度与装配兼容性;
科研与创新领域:为高校、科研机构开展光学材料表面特性研究、新型光学元件研发提供高精度测量数据支撑;
高端装备核心部件检测领域:为光刻机、医疗影像设备(如CT、MRI)、航空航天光学系统等核心部件的光学元件提供检测服务,保障装备整体性能稳定。
选择i3D系列:以技术赋能,筑牢精密制造品质基石
在精密制造领域,“微米级差距”可能直接影响产品性能与市场竞争力。i3D系列光学形貌3D检测设备以非接触式测量守护工件完整性,以超精密校准体系保障数据可靠性,以全场景适配能力降低企业设备投入成本——其价值不仅在于提供一台检测设备,更在于为企业构建“高效精准低成本”的检测体系,助力企业提升良品率、缩短研发周期、增强核心竞争力。
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2025-10-24
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2025-10-24
